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HZJY-5K絶縁抵抗テスター

絶縁試験機マニュアル*******水冷発電試験の測定に専用の絶縁抵抗テスターが、また実験室やフィールド試験の絶縁試験に使用することができます。 25mAを超える出力電流。 最大出力電圧は2500Vです。 含まれています...

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制品の詳細

絶縁テスターマニュアル
*******絶縁抵抗試験機は、水冷発電試験の測定専用ですが、また、実験室やフィールド試験の絶縁試験に使用することができます。 25mAを超える出力電流。 最大出力電圧は2500Vです。 高精度マイクロ電流測定システム、デジタル・ブースト・システムを搭載しています。 高電圧線を使用するだけで、テスト製品を接続する信号線を測定することができます。 自動測定、大画面液晶ディスプレイの結果、および結果を保存します。
Ⅰの主な機能
1. 32ビットマイクロコントローラ、操作が簡単な中国のユーザーインターフェイス。
2.吸収率と偏光度を自動的に計算し、15秒、1分、2分、10分を自動的に保存して1分あたりのデータ解析を容易にします。
3.出力電流、5mAを超える短絡電流。
4.完全に密閉された高電圧発生器モジュール技術、内部抵抗の保護、安全かつ信頼性の高い。 EHV変電所のオンサイト操作を満たすための耐干渉能力。
5.自動排出テストが完了し、排出プロセスをリアルタイムで監視します。
Ⅱ主な技術的成果
精度:±10%
範囲:0.1M〜200GΩ
試験電圧:0.5Kv、1KV、2.5KV、5KV
短絡電流:> 5mA
測定時間:1分〜10分(測定に関連して)
電源:180〜270V、50Hz / 60Hz±1%(電源または発電機の電力)
作業環境:温度-10〜40℃、相対湿度20〜80%。
32 * 27.5 * 14兆欧表5kgs尺寸和重量、
Ⅲの操作コンポーネントの機能
1.(L)高電圧出力の場合は「L」、
2.(G)遮蔽リングに接続された「G」
3.(E)GNDに接続します。
Ⅳノートその他
安全に注意してください、ハイサイドの "ライン"! 1G = 1000M
V.方法
測定動作
初期設定画面に入ります(図I)

QQ截图1.png

初期設定画面(図I)
1.アイコンの初期測定が選択され、以下は電圧を測定する2500Vを示します。
(1)→キーを押して、時計アイコンを設定するアイコンを保存するアイコンを選択したループ
(2)スタート/ストップボタンを1秒間押して測定を開始し、画面の測定値を表示します(図II)

QQ截图2.png

測定画面を表示する(図II)
前記試験電圧2500V
大きなプリントを測定したところ、瞬時値
02'45 "時間測定プロセス
05-05-24:測定日
15 "は15秒間測定された値を示す
01 'は1分間測定した値
10 'は10分測定した値
吸収比DAR DAR = R60s / R15s
PI PI = R10m / R60s偏光比
(4)スタート/ストップボタンによる測定処理、測定終了、放電画面の表示(図Ⅲ)

600V


放電スクリーン(図III)
過渡電圧放電プロセス。 この時点で、テストおよび測定製品ラインに触れてはいけません! そのように放電され、テスト項目のユーザーマニュアル放電。
(5)画面(図D)に保存された測定結果への放電完了後、

QQ截图3.png

測定結果の保存画面(図D)データと測定の一部としての画面の右半分は、測定画面の表示を参照してください(図II)。
[007]:その記憶された測定データのシリアル番号
007キーを押すとストアサイクルが選択できます。
初期設定画面(図1)に戻るためにプレス開始/停止ボタンが押されたときに、
[007]選択した時間に、→キーを押して選択したビットを移動し、↑↓キーを押してシリアル番号を変更します。
2.時計アイコンが選択されているとき。
(1)スタート/ストップボタンを押し、時刻表示と設定画面に入ります(図E)

QQ截图4.png

(2)スタート/ストップボタンでQUITを選択して初期設定画面に戻ります(図1)
(3)日時の開始/停止ボタンでSETを選択すると、下に小さな矢印が表示されます
↑↓キーで時刻を変更します。
(3)修正完了、開始/停止ボタンの設定が選択されている。
(4)→キーを押して設定を行い、ループを終了します。 サイクルが移動する修正日時では、小さな矢印
3.店舗アイコンが選択されると
(1)ビュー画面にデータを保存するための開始/停止ボタン(図6)

QQ截图5.png

ストアデータ画面(図6)を参照してください。
(2)データと測定の一部としての画面の右半分は、測定画面の表示を参照してください(図II)。
(3)[000]〜[007]は、連続測定
(4)↑キーを押して[000]〜[007]を選択すると、右のデータ数が表示されます
(5)次のページのボタンを押す→
(5)スタート/ストップボタンを押して初期設定画面に戻ります(図I)
4.設定アイコンが選択されたら
(1)スタート/ストップボタンを押し、セットアップ画面に入ります(図VII

QQ截图6.png

設定画面(図7)
(2)→キーを押して、TIME ALARMなどのループを選択させます。
(3)↑↓キーを押して、適切な設定を変更します
(4)スタート/ストップボタンを押して初期設定画面に戻ります(図I)
原器について
QQ截图201602011516479999999.png

それぞれの特徴
LCDキーパッド:キーボード、ディスプレイを操作します。
NCレギュレータ:0〜5V出力の高効率標準を生成するPWM回路。
DC-DC 0-10Kv:昇圧トランス、高変換、高電圧DC出力10kv。 短絡保護付き
分圧器回路:ADコレクションを容易にするために5Vに変換された10KV高圧。
測定回路:データ取得、電流変換用。
コントローラ:これらのモジュールのすべてが測定を完了します。
主要因の抵抗または抵抗率
a。 温度と湿度
温度と湿度の上昇に伴う材料の一般的な抵抗は減少する。 対照的に、表面抵抗(速度)は環境湿度に敏感であり、身体抵抗(速度)は温度に対してより敏感である。 湿度が増加し、表面漏れが増加し、体は伝導電流を増加させる。 温度、キャリアの速度の動きは、誘電体の吸収電流を加速し、伝導電流は情報が報告されていることに応じて、抵抗が70%の一般的なメディアに応じて増加する20Cは、時間のわずか10%です。 したがって、材料の抵抗の測定は、環境温度と平衡に達するようにサンプルを指定する必要がありますh
b。 試験電圧(電界強度)
誘電率(速度)値は一般に幅広い電圧範囲にはないが、オームの法則は適用されない。 室温は、より低い電圧範囲で、印加電圧による伝導電流が直線的に増加し、抵抗値は変化しないままである。 一定の電圧以上になると、動きのイオンが増加し、伝導電流の増加が試験電圧よりも速く増加すると、材料の抵抗が急激に減少する。 したがって、印加される試験電圧が高いほど、材料の抵抗が低くなり、その結果、材料の異なる耐圧試験がより大きな差を有することがある。
抵抗の決定要因の材料変化の結果として、テスト電圧ではなく電場強度のテストが注目に値する。 同じ試験電圧において、抵抗率の試験結果における異なる試験の電極間の距離が異なると、正負の電極間の距離が小さいほど試験値は小さくなる。
c。 テスト時間
DC電圧は、試験される材料にある圧力で、現在の値を安定させるための試験材料は瞬間的ではないが、減衰プロセスがある。 同時に圧力は、より大きな電流を流し、より多くの時間がゆっくりと電流の吸収を減少させ、より安定した電流を実現する最後のコンダクタンスを提供する。 測定された抵抗値が高いほど、平衡に達する時間は長くなります。 したがって、試験抵抗を正しく読み取るための測定値は、安定した値で読み取るか、1分後に圧力測定値を読み取る必要があります。
さらに、高い絶縁抵抗値はその充電履歴にも関連しています。 材料の静電特性の正確な評価のために、抵抗(レート)試験の材料は、最初にその電力消費量を処理し、ある時間立って、5分間放置し、その後試験プログラムを測定しなければならない。 一般に、材料試験、ランダムに選択された少なくとも3〜5の試料を試験し、その平均値を試験結果とした。
d。 リークテスト装置
テストでは、回路の接続は高い絶縁抵抗ではない、多くの場合、不適切なサンプルは、並列サンプリング抵抗などのテストされている、測定結果は、より大きな影響をもたらす可能性があります。 これをする:
測定誤差を低減するには、試験結果に漂遊電流の影響を基本的に排除するために設置された回路保護導体の漏れ電流に保護技術を使用する必要があります。
表面電離による高電圧ライン、地面への漏れがあるので、高電圧出力ケーブルとして高絶縁、大口径の高圧電線を使用して、できるだけ短くしてコロナ放電を防止してください。
ポリエチレン、テフロンなどの断熱材はベッドをテストし、そのような試験の原因を避けるために体を支えるのがより低かった。
e。 外部干渉
高DC電圧の絶縁材、サンプルを流れる電流は非常に小さく、外部干渉の影響を受けやすく、テスト誤差が大きくなります。 熱電ポテンシャル、接触電位は一般に小さく、無視することができる。 電解ポテンシャルは主に異なる金属接点で生成された湿潤試料で、約20mVに過ぎず、静的試験では比較的低い湿度が必要です。乾いた環境で試験した場合、潜在的な電解を排除できます。 したがって、外部の干渉は、主として、漂遊電流または静電誘導によって生成される電位の結合である。 試験電流は10-10A未満であるか、または1011オーム以上の抵抗を測定する。 試験サンプルである場合、試験電極および試験システムは、外部干渉の影響を排除するために厳しいスクリーニング手段を採用すべきである


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